技術開發分析/評價技術
我們使用廣泛的分析技術來支援產品開發和提升維持品質
為了維持本公司多樣化的產品開發，工程檢查和品質保證，我們正在發展我們對紙張以及樹脂、橡膠和有害物質的分析技術。為了我們的顧客，巴川分析中心積極開展對外承包業務。
巴川分析中心
巴川分析中心是創立100以上巴川集團股份有限公司的分析部門。
以公司創始產品之一的特殊紙的分析技術為核心，加上磁氣，粉體，電子材料等廣泛產品的分析技術，以及控制熱力・電・電磁波控制材料「iCas」領域，我們一直在進行技術的儲備・技術的鑽研。
利用這些技術，為外部顧客提供解決問題的分析服務。
(例如，在產品投訴、開發支援和品質保證等相關領域，我們的分析中心能夠調動其資源，幫助顧客解決問題。)
巴川分析中心網站巴川分析中心 主要評價設備和測量實例
在巴川分析中心，我們通過與您協商，將適當的分析設計與各種評價設備相結合，提出您所需要的測量・分析。
觀察
使用光學和電子顯微鏡，我們能夠觀察到積層形態和微小的混入物。 特別是我們獨特的切片觀察技術使我們能夠提供快速和真實的影像。
| 分析種類 | 設備名稱 | 測定內容 |
|---|---|---|
| 觀察・無機成分分析 | FIB加工設備（聚焦離子束觀察加工設備） | 微小領域加工觀察 |
| FE/SEM-EDS・WDS（FE型電子顯微鏡） | 微小領域觀察 | |
| W/SEM-EDS（鎢型電子顯微鏡） | 微小領域觀察 | |
| 雷射顯微鏡 | 觀察表面形狀・粗糙度分析 | |
| SPM掃描探針顯微鏡 | 微小領域觀察表面形狀・粗糙度分析 | |
| 數位顯微鏡 | 表面觀察 | |
| 光學顯微鏡 | 表面觀察 | |
| CP（離子拋光設備） | 微小領域加工觀察 | |
| Cryo-CP (冷卻離子拋光設備) | 微小領域加工觀察 | |
| 金剛石線鋸 | 微小領域加工觀察 | |
| 超薄切片機 | 微小領域加工觀察 | |
| 半自動拋光機 | 微小領域加工觀察 |
調查
我們能夠分析無機和有機物質，豐富的經驗使我們能夠提供精確的結果。熱裂解-GC/MS可以將高分子樣品熱裂解，並通過GC/MS檢測・定性熱裂解產物。
| 分析種類 | 設備名稱 | 測定內容 |
|---|---|---|
| 有機成分・成分分析 | FT-IR（紅外線吸收光譜）成像 | 成分分析 |
| FT-IR（加熱型ATR）成像 | 透過加熱的成分變化分析 | |
| 雷射拉曼顯微鏡 | 成分分析 | |
| GC（氣相色譜法）-FID | 成分分析 | |
| HS-GC/MS | 成分分析 | |
| 熱裂解GC/MS | 成分分析 | |
| P&T-GC/MS | 成分分析 | |
| HPLC（高效液相層析法） | 成分分析 | |
| LC-MS/MS（液相層質量分析） | 成分分析 | |
| GPC（分子量分布測定設備） | 分子量測定 | |
| 水分計（卡爾-費雪） | 水分量測定 | |
| 高精度瓦斯/蒸氣吸附量測定設備 | 比表面積/孔隙分布/各種吸附量測定 | |
| 電位滴定儀 | 滴定分析 | |
| 無機成分・結構分析 | X射線光電子能譜分析[C60，付氬氣濺射] | 超薄表面元素分析設備 |
| ICP-MS（ICP-質譜） | 元素分析 | |
| ICP-OES（ICP-光譜） | 元素分析 | |
| 微波分解設備 | 前處理設備 | |
| XRD（X射線繞射） | 晶體・結構分析 | |
| X射線螢光光譜儀 | 元素分析 | |
| 雜質離子分析 | 氣瓶燃燒設備 | 前處理設備 |
| 離子色譜儀 | 離子成分測定 | |
| PH計 | PH測定 | |
| 電導度計 | 電導度測定 |
測定
調查機械・熱・電氣等物性。也可測定高頻率[18 – 110 GHz]的介電常數和磁導率。
| 分析種類 | 設備名稱 | 測定內容 |
|---|---|---|
| 熱物性分析 | TG/DTA（熱重量/差熱分析） | 熱重量減少測定 |
| DSC（差示掃描量熱法） | 熱量變化測定（熔解、玻璃轉移、熱履歷、結晶化、硬化） | |
| 調變型DSC | 熱量變化測定（熔解、玻璃轉移、熱履歷、結晶化、硬化） | |
| 機械物性分析 | Tensilon (萬能拉伸試驗機) | 拉伸測試 |
| TMA（熱機械分析） | CTE測定 | |
| 洛氏硬度試驗儀 | 硬度測定 | |
| DMA（動態力學分析儀） | 加熱動態力學分析 | |
| 分散測定 | 界達電位測定儀 | 界達電位的測量（顆粒的分散和聚結） |
| 介電常數・磁導率的測定 | 介電常數・磁導率測定設備（自由空間法：18G～110Ghz） | 介電常數・磁導率的測定 |
| 介電常數・磁導率的測定設備（電感法：1M～1GHZ） | 介電常數・磁導率的測定 | |
| 介電常數・磁導率的測定設備（平行板法：1M～1GHz） | 介電常數・磁導率的測定 | |
| 介電常數・磁導率的測定設備（空腔共振法：1G、2G、10G、20GHz） | 介電常數・磁導率的測定 | |
| 介電常數・磁導率的測定設備（KEC法：1M～1GHz） | 介電常數・磁導率的測定 |
