技术开发分析/评估技术
通过利用各种分析技术来支持产品开发和品质提升
为支持本公司各种产品的开发、工程检查和品质保证，我们不断在对纸、树脂、橡胶、有害物质等的分析技术进行革新。巴川分析中心积极参与外包工作以谋求为客户提供更多帮助。
巴川分析中心
巴川分析中心是拥有超过100年历史的巴川集团的分析部门。
以创业产品特殊纸的分析技术为核心，对磁性、粉体、电子材料等TOMOEGAWA的多领域产品进行技术分析，加上热量、电和电磁波控制材料“iCas”的领域，不断对技术展开积累与钻研。
利用该技术，对于外部客户将给予问题解决型分析的合作。
（关于产品售后服务、开发支持、品质保证等各种问题、分析中心力求集中全体智慧为顾客解决问题。）
巴川分析中心主页巴川分析中心 主要评估设备及测量示例
在巴川分析中心，通过与顾客协商，将适当的分析设计与各种评估设备相结合，从而提供能够满足要求的测量和分析。
观察
利用光学显微镜、电子显微镜可以观察层压形态和微小污染物等。尤其是通过独特的断面观察技术，可提供快速且忠实于实物的图像。
| 分析种类 | 设备名称 | 测量内 |
|---|---|---|
| 观察、无机成分分析 | FIB加工设备（聚焦离子束观察加工设备） | 微区加工观察 |
| FE/SEM-EDS・WDS（FE型电子显微镜） | 微区观察 | |
| W/SEM-EDS（钨电子显微镜） | 微区观察 | |
| 激光显微镜 | 观察表面形状、粗糙度分析 | |
| SPM扫描探针显微镜 | 微区观察表面形状・粗糙度分析 | |
| 数码显微镜 | 表面观察 | |
| 光学显微镜 | 表面观察 | |
| CP（离子研磨机） | 微区加工观察 | |
| Cryo CP（冷却离子研磨机） | 微区加工观察 | |
| 金刚石绳锯 | 微区加工观察 | |
| 超薄切片机 | 微区加工观察 | |
| 半自动研磨机 | 微区加工观察 |
调查
无论无机物或有机物均可进行分析，凭借丰富的经验为顾客提供准确的分析结果。 热分解-GC/MS 可以对高分子样品进行热分解，并通过 GC/MS 对热分解产物进行检测和定性。
| 分析种类 | 设备名称 | 测量内 |
|---|---|---|
| 有机成分、成分分析 | FT-IR（红外吸收光谱）成像 | 成分分析 |
| FT-IR（加热 ATR）成像 | 加热过程中的成分变化分析 | |
| 激光拉曼显微镜 | 成分分析 | |
| GC（气相色谱仪）-FID | 成分分析 | |
| HS-GC/MS | 成分分析 | |
| 热分解GC/MS | 成分分析 | |
| P&T-GC/MS | 成分分析 | |
| HPLC（高效液相色谱仪） | 成分分析 | |
| LC-MS/MS（液相色谱质谱） | 成分分析 | |
| GPC（分子量分布测量仪） | 分子量测量 | |
| 水分计（卡尔费舍尔） | 水分量测量 | |
| 高精度气体、蒸汽吸附量测量仪 | 比表面积、孔分布（nm）/各种吸附量测量 | |
| 电位滴定仪 | 滴定分析 | |
| 无机构成、结构分析 | XPS（X射线光电子能谱）［C60，采用 Ar 溅射］ | 极表面元素分析仪 |
| ICP-MS（ICP-质量分析） | 元素分析 | |
| ICP-OES（ICP-发光分析） | 元素分析 | |
| 微波分解设备 | 预处理设备 | |
| XRD（X射线衍射） | 晶体、结构分析 | |
| X射线荧光分析仪 | 元素分析 | |
| 杂质离子分析 | 气缸燃烧设备 | 预处理设备 |
| 离子色谱仪 | 离子成分测量 | |
| PH计 | PH测量 | |
| 电导率计 | 电导率测量 |
测量
调查机械、热量、电气等的物理性质。它还可以测量高频[18至110 GHz]的介电常数和磁导率。
| 分析种类 | 设备名称 | 测量内 |
|---|---|---|
| 热学性能分析 | TG/DTA（热重、差热分析） | 热重减少测量 |
| DSC（差示扫描量热法） | 热值变化测量（熔化、玻璃化转变、热历史、结晶化、固化） | |
| 调制DSC | 热值变化测量（熔化、玻璃化转变、热历史、结晶化、固化） | |
| 力学性能分析 | TENSILON（万能拉力测试仪） | 张力测试 |
| TMA（热机械分析） | CTE测量 | |
| 洛氏硬度计 | 硬度测量 | |
| DMA（动态模量测量设备） | 热模量测量 | |
| 分离测量 | Zeta电位测量机 | Zeta 电位测量（粒子的分散、聚集） |
| 介电常数、磁导率测量 | 介电常数、磁导率测量设备（自由空间法：18G～110Ghz） | 介电常数、磁导率测量 |
| 介电常数、磁导率测量设备（电感法：1M～1GHZ） | 介电常数、磁导率测量 | |
| 介电常数、磁导率测量设备（平行板法：1M～1GHz） | 介电常数、磁导率测量 | |
| 介电常数、磁导率测量设备（空洞共振法：1G、2G、10G、20GHz） | 介电常数、磁导率测量 | |
| 介电常数、磁导率测量设备（KEC法：1M～1GHz） | 介电常数、磁导率测量 |
