关于电子零件的热量、电、电磁波控制材料

技术开发分析/评估技术

通过利用各种分析技术来支持产品开发和品质提升

为支持本公司各种产品的开发、工程检查和品质保证,我们不断在对纸、树脂、橡胶、有害物质等的分析技术进行革新。巴川分析中心积极参与外包工作以谋求为客户提供更多帮助。


巴川分析中心

分析センターHP

巴川分析中心是拥有超过100年历史的巴川制纸所的分析部门。

以创业产品特殊纸的分析技术为核心,对磁性、粉体、电子材料等TOMOEGAWA的多领域产品进行技术分析,加上热量、电和电磁波控制材料“iCas”的领域,不断对技术展开积累与钻研。

利用该技术,对于外部客户将给予问题解决型分析的合作。

(关于产品售后服务、开发支持、品质保证等各种问题、分析中心力求集中全体智慧为顾客解决问题。)

巴川分析中心主页


巴川分析中心 主要评估设备及测量示例

主要評価項目

在巴川分析中心,通过与顾客协商,将适当的分析设计与各种评估设备相结合,从而提供能够满足要求的测量和分析。


观察

微区观察:(SEM-EDX)
微区观察:(SEM-EDX)

利用光学显微镜、电子显微镜可以观察层压形态和微小污染物等。尤其是通过独特的断面观察技术,可提供快速且忠实于实物的图像。


分析种类 设备名称 测量内
观察、无机成分分析 FIB加工设备(聚焦离子束观察加工设备) 微区加工观察
FE/SEM-EDS・WDS(FE型电子显微镜) 微区观察
W/SEM-EDS(钨电子显微镜) 微区观察
激光显微镜 观察表面形状、粗糙度分析
SPM扫描探针显微镜 微区观察表面形状・粗糙度分析
数码显微镜 表面观察
光学显微镜 表面观察
CP(离子研磨机) 微区加工观察
Cryo CP(冷却离子研磨机) 微区加工观察
金刚石绳锯 微区加工观察
超薄切片机 微区加工观察
半自动研磨机 微区加工观察

调查

成分分析:(熱分解GC/MS)
成分分析:(熱分解GC/MS)

无论无机物或有机物均可进行分析,凭借丰富的经验为顾客提供准确的分析结果。 热分解-GC/MS 可以对高分子样品进行热分解,并通过 GC/MS 对热分解产物进行检测和定性。


分析种类 设备名称 测量内
有机成分、成分分析 FT-IR(红外吸收光谱)成像 成分分析
FT-IR(加热 ATR)成像 加热过程中的成分变化分析
激光拉曼显微镜 成分分析
GC(气相色谱仪)-FID 成分分析
HS-GC/MS 成分分析
热分解GC/MS 成分分析
P&T-GC/MS 成分分析
HPLC(高效液相色谱仪) 成分分析
LC-MS/MS(液相色谱质谱) 成分分析
GPC(分子量分布测量仪) 分子量测量
水分计(卡尔费舍尔) 水分量测量
高精度气体、蒸汽吸附量测量仪 比表面积、孔分布(nm)/各种吸附量测量
电位滴定仪 滴定分析
无机构成、结构分析 XPS(X射线光电子能谱)[C60,采用 Ar 溅射] 极表面元素分析仪
ICP-MS(ICP-质量分析) 元素分析
ICP-OES(ICP-发光分析) 元素分析
微波分解设备 预处理设备
XRD(X射线衍射) 晶体、结构分析
X射线荧光分析仪 元素分析
杂质离子分析 气缸燃烧设备 预处理设备
离子色谱仪 离子成分测量
PH计 PH测量
电导率计 电导率测量

测量

介电常数、磁导率测量:(フリースペース型Sパラメーター測定装置)
介电常数、磁导率测量:(自由空间型S参数测量设备)

调查机械、热量、电气等的物理性质。它还可以测量高频[18至110 GHz]的介电常数和磁导率。


分析种类 设备名称 测量内
热学性能分析 TG/DTA(热重、差热分析) 热重减少测量
DSC(差示扫描量热法) 热值变化测量(熔化、玻璃化转变、热历史、结晶化、固化)
调制DSC 热值变化测量(熔化、玻璃化转变、热历史、结晶化、固化)
力学性能分析 TENSILON(万能拉力测试仪) 张力测试
TMA(热机械分析) CTE测量
洛氏硬度计 硬度测量
DMA(动态模量测量设备) 热模量测量
分离测量 Zeta电位测量机 Zeta 电位测量(粒子的分散、聚集)
介电常数、磁导率测量 介电常数、磁导率测量设备(自由空间法:18G~110Ghz) 介电常数、磁导率测量
介电常数、磁导率测量设备(电感法:1M~1GHZ) 介电常数、磁导率测量
介电常数、磁导率测量设备(平行板法:1M~1GHz) 介电常数、磁导率测量
介电常数、磁导率测量设备(空洞共振法:1G、2G、10G、20GHz) 介电常数、磁导率测量
介电常数、磁导率测量设备(KEC法:1M~1GHz) 介电常数、磁导率测量
真诚期待您的咨询